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Symbolfoto: Das AIT ist Österreichs größte außeruniversitäre Forschungseinrichtung

Am Marktplatz der Innovation

28.05.2024
Auf der Messe Control präsentierte das AIT ici:microscopy für die kombinierte 2D- und 3D- Inline-Prüfung feinster Strukturen und bewies aufs Neue, dass es ganz vorne dabei ist.

Die Zeit vom 23. bis 26. April 2024 stand ganz im Zeichen der Qualitätssicherung. Auf der Messe Control in Stuttgart, der internationalen Fachmesse für Qualitätssicherung, präsentierten 475 internationale Aussteller moderne Qualitätssicherung und wie Fertigungsunternehmen ihre Produktionsprozesse optimal und zukunftsgerichtet gestalten können. Das AIT Austrian Institute of Technology, vertreten durch das Center for Vision, Automation & Control, war traditionsgemäß dabei.

Eingebettet in die Sonderschau »Berührungslose Messtechnik« des Fraunhofer Geschäftsbereichs Vision zeigten die Expert:innen der AIT Forschungsgruppe High-Performance Vision Systems (HVS) ihre innovative und zukunftsweisende 3D Messtechnologie zur Qualitätsprüfung in Fertigungsprozessen. Das inline 3D Mikroskopieverfahren ici:microscopy ist für die Inspektion feinster Strukturen bei hohen Prüfgeschwindigkeiten geeignet. Ganz im Geiste der Sonderschau erklärten die Expert:innen den Unternehmer:innen, dem Fachpublikum und den Besucher: innen die  zugrundeliegende Technologie sowie die Besonderheiten, Vorteile und Grenzen der neuen Messmöglichkeit. Mit dieser hoch performanten Prüftechnologie und ihrer fachlichen Kompetenz sorgten sie für reges Interesse bei den Kund:innen.

Internationale Sichtbarkeit

„Für uns ist die Messe ein wichtiger Ankerpunkt. Als Wissenschaftsorganisation, die industrienah forscht, ist es entscheidend zu verstehen, was der Markt braucht. Hier können wir uns mit internationalen Anwender:innen, Hersteller:innen, Kund:innen und Partner:innen austauschen und Möglichkeiten der Zusammenarbeit evaluieren. Am Ende geht es um die Wirtschaftlichkeit, Wettbewerbsfähigkeit und Zukunftsfähigkeit der Unternehmen. Daher gehen wir nun einen Schritt weiter, nämlich von der Qualitätsinspektion hin zur Steuerung des Produktionsprozesses, um die Qualität zu sichern und damit Ressourcen zu schonen. Wir wollen auch hier eine Vorreiterrolle einnehmen“ so Markus Clabian, der die AIT-Forschungsgruppe HVS leitet. „Dass das AIT für Innovation steht und ein verlässlicher Partner ist, zeigt sich daran, dass internationale Unternehmen gezielt mit ganz konkreten Fragestellungen zu uns kommen, für die andere bis dato keine Lösung anbieten konnten. Wir haben inzwischen eine hohe Sichtbarkeit innerhalb und außerhalb Europas,“ ergänzt Petra Thanner, Expertin auf dem Gebiet der hoch performanten Bildverarbeitung und als thematische Koordinatorin für die Weiterentwicklung der 2D und 3D Inspektionsmethoden verantwortlich.

Kleinste Defekte mit 40 Millionen 3D Bildpunkten pro Sekunde

Die neue Technologie ici:microscopy, die die AIT Expert:innen vorstellen ist ein inline 3D Mikroskopieverfahren, das auf den am AIT entwickelten Inline Computational Imaging (ICI) – Algorithmen aufbaut. Das Mikroskop ist für schnelle Inspektionsaufgaben mit extrem hohen Auflösungen (bis zu 700 nm) geeignet. Es nutzt die natürliche Transportbewegung des Objektes für die simultane 2D und 3D Oberflächenerfassung unter verschiedenen Betrachtungs- und Beleuchtungsrichtungen und ahmt auf diese Weise die Prüfung durch einen Menschen wie Kippen des Objekts und Änderung der Betrachtungsperspektive nach. Feinste Veränderungen in der Oberfläche werden so entdeckt und mit intelligenten Algorithmen ausgewertet. „Die Inline-3D-Erfassung und -messung ist immer öfter Bestandteil moderner Produktionsprozesse. Hochpräzise Fertigungsverfahren und die steigende Miniaturisierung von Bauteilen und Komponenten erfordern Auflösungen im µm-Bereich, wodurch auch der Bedarf an schnellen Inline-3D-Mikroskopie-Lösungen steigt. Trotz zahlreicher Entwicklungen auf diesem Gebiet gibt es bisher nur wenige inlinefähige Lösungen, die die Anforderungen der Fertigungsindustrie an Genauigkeit und Prozesssicherheit erfüllen und dabei auch für den Einsatz bei flexiblen Losgrößen und hohen Fertigungsgeschwindigkeiten geeignet sind. Mit ici:microscopy schließen wir diese Lücke,“ erklärt Lukas Traxler, der die AIT Technologie hauptverantwortlich mitentwickelt hat.

Internationaler Treffpunkt für die Branche

Zur 36. Auflage der Control kamen in diesem Jahr insgesamt 13 149 Fachbesucher:innen. Mit der Sonderschau „Berührungslose Messtechnik“ will der Fraunhofer-Bereich Vision zu einer breiteren Akzeptanz der berührungslosen Messtechnik beitragen.